芯链未来 · 智测共赢 ATE集成电路自动测试设备技术成果交流会成功举办
发布时间:2025-11-11 09:23 浏览次数:【字号:默认 大 特大】
11月5日,由无锡市集成电路检测认证服务联盟(以下简称“联盟”)联合清华大学无锡应用技术研究院、无锡市集成电路学会共同主办的“芯链未来 · 智测共赢——ATE集成电路自动测试设备技术成果交流会”在清华大学无锡应用技术研究院二楼会议室隆重举行,来自政府主管部门、产业链重点企业、科研院所及检测机构等二十余家与会代表齐聚一堂,共同见证江苏中创芯盛科技有限公司首台ATE设备技术成果发布,探讨集成电路测试领域的创新路径与协同发展之道。
本次交流会重点展示了由清华无锡研究院孵化企业——江苏中创芯盛科技有限公司自主研发的首台集成电路自动测试设备。该设备基于创新型集成电路测试技术方案(NTS),具备数字通道扩展性强、测试速率高、功耗低、体积小等优势,可广泛应用于芯片设计、封装测试、科研教学等关键环节,填补了区域内相关领域核心装备自主研发的空白,为本土企业降低测试成本、提升产品竞争力提供了重要支撑。现场展示的设备样机及测试数据引发了与会代表的广泛关注,大家纷纷驻足询问技术细节。
交流研讨环节,参会代表围绕产业实际需求展开热烈探讨。无锡市市监局认可检测处、滨湖区工信局电子信息处、滨湖区市监局质量科等政府部门代表,从政策引导、质量监管、产业扶持等角度,提出推动测试装备技术落地与行业标准化建设的建议;围绕“测试技术优化路径”“产业链资源协同”“技术成果转化落地”等议题展开深度研讨,针对设备核心性能抛出关键问题,江苏中创芯盛科技有限公司团队逐一专业回应。江苏电子质检院、中微腾芯、58所、无锡科院等单位专家、院校及企业代表,先后就产品核心差异、操作维护便捷性、软件稳定性、模块集成优势、技术兼容性及芯片国产化等关键问题提问。公司团队逐一回应:设备在测试效率与精度上实现突破,适配中小微企业需求;轻量化设计易操作、易维护,软硬件经专业验证保障稳定运行;模块化集成设计省空间、提效,接口兼容、算法优化规避参数漂移,软件加密护安全;当前芯片非国外管控型号,后续将导入国产方案。无锡计量院专家代表建议增加计量校准功能,团队表示将在迭代中考量。整场研讨问答交织、观点碰撞,既厘清了技术痛点,又对接了合作意向,现场氛围热烈而务实。
无锡市集成电路检测认证服务联盟负责人表示,此次交流会是联盟搭建产业服务平台的重要举措,后续联盟将持续发挥桥梁纽带作用,整合产业链上下游资源,推动更多核心技术成果落地转化,助力无锡集成电路产业构建“研发-测试-产业化”的良性循环生态。
此次技术成果交流会的成功举办,不仅展示了区域内集成电路测试装备自主研发的重要突破,更促进了产业链上下游的深度对接。与会代表纷纷表示,将以此次交流会为契机,加强技术合作与资源共享,共同推动集成电路测试领域的创新发展,为我国集成电路产业高质量发展贡献无锡力量。






